
研究背景與團隊
HOIHP材料本身具備優異的光電特性,例如穩定的晶體結構和較長的載子擴散長度,但要達到超過26.5%的認證效率,需要有效的界面工程和非輻射復合抑制策略。鈣鈦礦晶體的定向形核和生長,對于避免不良相(如DMSO–PbI2中間相)、提高薄膜品質、增強電荷傳輸層的界面接觸非常重要,但此環節仍未獲得足夠的關注。
該研究由成都理工大學段玉偉、中國科學院大連化學物理研究所劉生忠教授領導團隊進行研究,并發表在頂刊《Advanced Materials》。研究團隊設計并合成了一種非對稱多功能添加劑:S-(2-胍基-4-噻唑基)-(DC)。該分子將胍基和異硫脲兩種功能基團結合在噻唑核心上,旨在克服先前胍基和硫脲添加劑之間可能存在的競爭性相互作用。研究核心在于利用異硫脲臂對欠配位Pb^2+的強配位作用,促進鈣鈦礦沿(001)晶面的定向生長并抑制有害中間相的形成,同時利用胍基部分通過N—H···I氫鍵來穩定碘離子 (I^-),提高離子遷移活化能。借由這項策略,無MA的PSCs在p—i—n結構中取得了26.73%的最高認證準穩態輸出(SPO),在n—i—p結構中達到26.18%的效率。(Fig. 4f)

QFLS 表征在載子動力學解析中的作用
在鈣鈦礦太陽能電池研究中,準費米能級分裂(QFLS, Quasi-Fermi Level Splitting)是定量評估材料內部光電性能,特別是缺陷密度和非輻射復合損失的關鍵參數。
QFLS 測量與數據解析
該研究采用光致發光量子產率(PLQY)測量來計算QFLS值。PLQY值直接反映了材料內部輻射復合與非輻射復合的平衡,進而決定了器件在光照下的理論最大開路電壓 (VOC)。
該研究的測試結果顯示,玻璃/鈣鈦礦薄膜結構中,DC處理組和對照組的PLQY和QFLS數據如下(圖3d):

對照組薄膜: PLQY為0.08%,計算所得QFLS值為1.103 eV。
DC處理組薄膜: PLQY顯著提高至0.17%,計算所得QFLS值為1.135 eV。
DC處理組薄膜更高的QFLS值(1.135 eV)主要歸因于體缺陷密度的降低和非輻射復合的有效抑制。這種QFLS的提升直接支持了器件VOC的增強。
這項鈣鈦礦研究通過PLQY定量QFLS,精確解析非輻射復合損失,并輔以PL成像驗證薄膜品質。Enlitech QFLS-Maper檢測器提供完整功能,可在3秒內視覺化QFLS圖像,并快速量測PLQY、iVOC與Pseudo J-V曲線。對于需要高效評估VOC潛力和材料性能極限的研究,QFLS-Maper提供一站式解決方案。
載子動力學與缺陷表征
為深入解析載子行為,研究同時進行了穩態與時間分辨光致發光(TRPL)以及共聚焦PL成像。
1. 時間分辨光致發光(TRPL)(圖3b): 在玻璃/鈣鈦礦薄膜上(從鈣鈦礦側入射光),DC處理組的平均載流子壽命(τ_ave)從對照組的150.81 ns顯著延長至515.46 ns。壽命的延長證明了DC分子有效鈍化了缺陷,增強了電荷分離與傳輸效率,并抑制了電荷非輻射復合。

2. 共聚焦PL強度與壽命成像:
o PL強度成像(圖3g): 對照組薄膜顯示出較多黑暗區域和不均勻的PL強度,表明存在較多缺陷。而DC處理組薄膜顯示出更亮且更均勻的綠色PL強度,這表明DC分子增強了晶體品質,改善了載子傳輸,并減少了在晶界或界面等富缺陷區域的載子湮滅。
o PL壽命成像(圖3h): DC處理組的載子壽命(13,494—20,601 ps)遠長于對照組(2,364—4,003 ps),進一步證實了載子壽命顯著延長,非輻射復合被有效抑制。

3. 缺陷密度(N_trap)量化(圖S11a): 通過空間限制電流(SCLC)測量,計算出DC處理組的電子陷阱密度(2.5 × 10^15 cm^-3)遠低于對照組(4.9 × 10^16 cm^-3)。

結論與研究成果
該研究成功開發了非對稱DC添加劑,通過異硫脲和胍基的協同作用,有效地調控了無MA鈣鈦礦的定向形核與生長。異硫脲組件與Pb^2+的強配位作用促進了晶體沿(001)方向結晶,抑制了有害中間相,而胍基組件則通過氫鍵穩定I^-離子,提高了離子遷移的活化能。(圖 1)

實驗結果,DC處理極大地提升了鈣鈦礦薄膜的品質,減少了殘余應變,并且在空氣中老化11天后仍保持黑色的光活性相,顯著提高了防潮性。(圖 5a)

在光電性能方面,DC處理的p—i—n器件實現了26.73%的認證準穩態輸出效率。在連續光照(ISOS—L—1)超過4,000 h和暗儲存(ISOS—D—1)超過2,000 h后,器件效率仍能維持在初始效率的90%以上。(圖 5e.f)


QFLS在該研究中的核心貢獻是提供了一個量化的熱力學證據,即通過添加劑優化后,鈣鈦礦薄膜的內部發光效率提高,從而使QFLS值從對照組的1.103 eV提升至1.135 eV。這項數據與VOC非輻射損失(從127 mV降至95 mV)的分析結果一致,共同驗證了DC添加劑在抑制體缺陷和非輻射復合方面的有效性。此工作證明了合理設計非對稱多功能添加劑,是開發高效且穩定PSCs的有效策略。
文獻參考自Advanced Materials_DOI: 10.1002/adma.202514903
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